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FIB-SEM-Ar“三束“系统
FIB-SEM-Ar“三束“系统FIB-SEM-Ar“三束“系统/日立最新双束FIB系统 NX2000(图1)可以通过对已经加工好的样品再用Ar+离子束进行加工,达到更好的加工效果 。
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蔡司 Crossbeam 340 和 Crossbeam 540专用于纳米断层成像和纳米加工的 FIB-SEM 系统
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垂直镜筒设计双束FIB NX9000
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高效率加工FIB MI4050
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TEM 制样:FIB制样的优势和缺陷
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FIB马达台摇摆功能
摇摆FIB马达台摇摆功能/日立FIB的马达台摇摆功能可以在样品加工的同时不断改变离子束的加工方向,对消除“Curtaining effect”效果非常明显。
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